產(chǎn)品介紹：
 

　　鐵電材料綜合測試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場介電性能、熱釋電系數(shù)、品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊，也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測試； 配合高低溫測試環(huán)境同時(shí)可以測量不同環(huán)境溫度下的材料性能參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測試系統(tǒng)。為目前研究壓電陶瓷材料\鐵電材料的測試設(shè)備。模塊化設(shè)計(jì)具有的擴(kuò)展性。
 

　　設(shè)備內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i3或更高)、RAM(4G或更大)、硬盤(120G固態(tài)硬盤)、網(wǎng)卡、USB接口、VGA接口、預(yù)裝Windows7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測電試軟件等。
 

　　產(chǎn)品優(yōu)勢：
 

　　優(yōu)勢一：可測量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)
 

　　優(yōu)勢二：測量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試
 

　　優(yōu)勢三：可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測試
 

　　優(yōu)勢四：可測量壓電陶瓷的品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)
 

　　優(yōu)勢五：可選配不同的測試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測試
 

　　優(yōu)勢六：本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測試