溫度，是衡量電容器性能穩(wěn)定性的關(guān)鍵考驗(yàn)。在高低溫交替、工況復(fù)雜多變的環(huán)境中，如何準(zhǔn)確捕捉電容特性的細(xì)微變化，真實(shí)還原器件在實(shí)際場景下的表現(xiàn)？

華測儀器 HCCT-40H 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)，專為 MLCC、薄膜電容、陶瓷電容等多類電容器量身打造，提供一套多通道、全自動(dòng)、高準(zhǔn)確度的溫變特性綜合測試方案。

系統(tǒng)支持至多 64 通道同步測量，可按 8 通道倍數(shù)靈活選配，可實(shí)現(xiàn) 64 路樣品并行測試，1 分鐘內(nèi)即可完成全參數(shù)掃描，大幅優(yōu)化測試通量與效率，告別單通道逐點(diǎn)測試的漫長等待。

設(shè)備搭載三大測試模式：溫度特性測試、恒定運(yùn)行測試、頻率特性測試，實(shí)現(xiàn)對(duì)電容性能的三維評(píng)估。支持至高201 步頻率掃描，掃描范圍可按需定制，全維度追蹤電容量(C)、損耗系數(shù)(D)、阻抗(Z)、電阻(Rs，Rp)、電感(Ls，Lp)等關(guān)鍵參數(shù)隨溫度、頻率的變化規(guī)律。

測量采用高準(zhǔn)度交流四端對(duì)測量法，測量頻率覆蓋20Hz～1MHz，直流偏壓范圍為0～±40V，可覆蓋電容器電參數(shù)的準(zhǔn)確測量需求，為電容器的材料研發(fā)、品質(zhì)管控、可靠性驗(yàn)證與老化評(píng)估，提供一站式、標(biāo)準(zhǔn)化的便捷測試解決方案。