產(chǎn)品型號：HPZT-800

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-16

產(chǎn)品簡介：

華測儀器HPZT-800高溫d33壓電系數(shù)測試儀

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師。

    HPZT-800高溫d33壓電系數(shù)測試儀由華測儀器生產(chǎn)，采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，基于華測公司在弱信號采集技術(shù)的優(yōu)勢，設(shè)計的一款用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)測試儀器，相對傳統(tǒng)的d33測量儀測量精度效果好，測量量程范圍寬，可靠性提升，操作便捷。可應(yīng)用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試。

一、產(chǎn)品特點

1、采用主流FPGA設(shè)計，實現(xiàn)30Hz~140Hz寬范圍測量；

2、采用高阻放電荷放大器，減小測量過程中的損耗；

3、采用直流線性加熱，減少渦流加熱噪聲；

4、采用真空電極避免絕緣支架帶來的熱釋電電荷；

二、產(chǎn)品參數(shù)

儀器參數(shù)

測試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz~140Hz

                  精度：±0.1Hz

測試載荷：靜態(tài)力10N

                  振蕩測試載荷：0.05N~0.5N可調(diào)

電容測量范圍：10pF~0.1μF

                         精度：±2%±1pF

溫度范圍：RT~650℃

加熱方式：PID控制

溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（＞25℃），±0.1℃（＜25℃）

軟件功能：可設(shè)溫控速率、可設(shè)溫控程序、可記錄溫控曲線